atpg_g tessen - 程序员宅基地

tessent scan and ATPG User's Mannual (atpg_gd March 2019 )

标签： atpg_g tessen

2019 March 最新版,scan atpg文档。描述了scan atpg的操作flow，工具原理

tmax_ug.rar_ATPG_DFT_TMax

标签： atpg dft tmax

DFT用于ATPG的工具usrguide

atpg atpg-gd.pdf

标签： IC DTF

atpg atpg-gd.pdf

atpg_gd.pdf

atpg_gd.pdf是一个PDF文件名，其中的"atpg_gd"可能是指"Automatic Test Pattern Generation"和"GD"可能是指"Golomb ruler"。 "Automatic Test Pattern Generation"（ATPG）是一种用于半导体芯片测试的技术，它通过...

Mentor-dft 学习笔记 day20-ATPG Event Simulation for DFFs and Latches

标签：学习网络开发语言

Mentor-dft 学习笔记 day20-ATPG Event Simulation for DFFs and Latches

ATPG中的primitives

标签： ATPG

TEST-T> report_primitives -summary Gate Summary Report ----------------------------------------------- #primitives 452298 #primary_inputs

小姜的ATPG学习笔记_TetraMax

标签：学习笔记性能优化

上图所示为测试自动化生成方法，首先读入RTL代码进行综合，在综合的过程中利用DFT Compiler进行扫描单元替换，然后完成一步到位的综合，包括设计规则检查，测试综合验证，内核测试包装。构建过程完成后，TetraMAX会...

【Tessent】Scan and ATPG 【ch2 Scan and ATPG Basics】(4) Multiple Detect(n-detect)

标签：其他

Tessent 手册第二章中 N-detect 基础知识

tessent scan and ATPG User's Mannual (atpg_gd March 2019 )下载

2019 March 最新版,scan atpg文档。描述了scan atpg的操作flow，工具原理相关下载链接：//download.csdn.net/download/weixin_39874562/11106401?utm_source=bbsseo

ATPG Practice& ATPG Practice II

标签： design for test

文章目录ATPG DRC 本博文是博主记录DFT实训教程的笔记版本，此笔记并没有对所有的知识进行记录，仅仅以自身的认知水平，来记录了一些部分笔记并加上了自己的理解. ATPG DRC scan chain tracing 第一步ATPG就是要去...

Mentor-dft 学习笔记 day21-ATPG Efficiency&Delay Test Set Creation

标签：学习网络开发语言

Mentor-dft 学习笔记 day21-ATPG Efficiency&Delay Test Set Creation

Tessent Scan and ATPG User‘s Manual 2022 ch12 Test Pattern File Formats

标签：其他

在扫描链的卸载(unloading)过程中，在扫描链输出引脚处测量相应对应扫描链的每个值。移位过程将扫描链中的值依次移出，直到所有扫描链中的所有值都被unloading。同样，因为shift的数量是由最长扫描链的长度决定的，...

【Tessent】Scan and ATPG 【ch2 Scan and ATPG Basics】(1) Scan Design 和 ATPG 概述

标签：其他

Scan and ATPG User‘s Manual 2022 用户手册第二章前两部分的内容，Scan Design和ATPG的概述

AU类型的fault占比过高，覆盖率低，Debug步骤

标签： DFT 数字后端 ASIC

AU类型fault占比过高，debug方法

关于ATPG

标签：集成测试

对电路进行测试,首先要解决的就是测试生成的问题。测试生成就是针对于特定电路的给定故障, 生成相应测试向量的过程,该测试向量使得故障电路和正确电路的输出不同,该过程解决两个主要问题：........................

Test_ATPG.pdf

DFT中的SCAN、BIST、ATPG基本概念

标签：数字IC设计

BIST(Built-in Seft Test)内建测试，是DFT的一种技术。Automatic Test Pattern Generation (ATPG)是DFT（Design for Testability，可测试性设计）中常用的技术，用于自动生成测试向量。

ATPG之debug

ATPG之debug 转自：http://www.blogbus.com/bb2hh-logs/60237492.html Author：pythonlong 以下根据资料和个人体会整理，如果错误，疑问欢迎请指正，讨论！！ ATPG debug要熟悉TetraMAX工具的...

【Tessent】Tessent Scan and ATPG Users Manual 2022 ch8 Test Pattern Generation

标签：其他

测试生成的基本过程

Tessent scan & ATPG(8) Debug low test coverage(低测试覆盖率的原因及debug方法)

标签：测试覆盖率

如何利用工具debug测试覆盖率低的原因

[ATPG]set_atpg -capture_cycles d 中的 d(数字)代表什么意思？

标签： ATPG

set_atpg -capture_cycles d 中的 d 代表什么意思？-capture_cycles d查到SOLD中的解释为：Sets the Fast-Sequential ATPG algorithm effort level. Acceptable values are integers between 2 and 10, or 0. A ...

基于SAT的数字电路ATPG方法及应用_张岳华.caj

【Tessent】Scan and ATPG 【ch8 Test Pattern Generation】Timing-Aware ATPG

标签：其他

Timing-aware ATPG基础

Mentor-dft 学习笔记 day27-Timing-Aware ATPG vs. Transition ATPG

标签：学习开发语言网络

Timing-Aware ATPG vs. Transition ATPG

ATPG DRC Warning/Error 的类型

标签： DRC

run_drc 阶段会报的DRC WarningThe rules are organized functionally into nine major categories:B (Build rules) C (Clock rules) N (Netlist rules) P (Path Delay rules) S (Scan Chain rules) ...

请给出一个脚本流程，关于数字设计中生成atpg的

set_atpg_algorithm D-algorithm # 设定最大故障数为1000 set_atpg_option max_faults 1000 # 设定最大模式数为100 set_atpg_option max_patterns 100 # 设定最大时间为10min set_atpg_option max_time 600 # ...

请给出一个脚本流程，关于数字设计中生成atpg的（以design compilor）

set_atpg_algorithm D-algorithm # 设定最大故障数为1000 set_atpg_option max_faults 1000 # 设定最大模式数为100 set_atpg_option max_patterns 100 # 设定最大时间为10min set_atpg_option max_time 600 # ...

可测试性设计与ATPG.ppt

标签： DFT & ATPG Scan mode

非常详细的DFT入门资料，详细介绍了常见的DFT模型，以及Scan mode测试技术。最后介绍了ATPG Flow。

Mentor-dft 学习笔记 day18-ATPG Basic Tool Flow&ATPG Procedures

标签：学习开发语言网络

Mentor-dft 学习笔记 day18-ATPG Basic Tool Flow&ATPG Procedures

atpg:自动测试数据包生成

标签： HCL

作者曾鸿yi（hyzeng_at_stanford.edu） Peyman Kazemian（kazemian_at_stanford.edu）什么是ATPG？ ATPG代表“自动测试数据包生成”。它是通过针对网络配置生成测试套件来正式测试网络正确性的框架ATPG读取路由器...

”atpg_g tessen“ 的搜索结果

tessent scan and ATPG User's Mannual (atpg_gd March 2019 )

tmax_ug.rar_ATPG_DFT_TMax

atpg atpg-gd.pdf

atpg_gd.pdf

Mentor-dft 学习笔记 day20-ATPG Event Simulation for DFFs and Latches

ATPG中的primitives

小姜的ATPG学习笔记_TetraMax

【Tessent】Scan and ATPG 【ch2 Scan and ATPG Basics】(4) Multiple Detect(n-detect)

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ATPG Practice& ATPG Practice II

Mentor-dft 学习笔记 day21-ATPG Efficiency&Delay Test Set Creation

Tessent Scan and ATPG User‘s Manual 2022 ch12 Test Pattern File Formats

【Tessent】Scan and ATPG 【ch2 Scan and ATPG Basics】(1) Scan Design 和 ATPG 概述

AU类型的fault占比过高，覆盖率低，Debug步骤

关于ATPG

Test_ATPG.pdf

DFT中的SCAN、BIST、ATPG基本概念

ATPG之debug

【Tessent】Tessent Scan and ATPG Users Manual 2022 ch8 Test Pattern Generation

Tessent scan & ATPG(8) Debug low test coverage(低测试覆盖率的原因及debug方法)

[ATPG]set_atpg -capture_cycles d 中的 d(数字)代表什么意思？

基于SAT的数字电路ATPG方法及应用_张岳华.caj

【Tessent】Scan and ATPG 【ch8 Test Pattern Generation】Timing-Aware ATPG

Mentor-dft 学习笔记 day27-Timing-Aware ATPG vs. Transition ATPG

ATPG DRC Warning/Error 的类型

请给出一个脚本流程，关于数字设计中生成atpg的

请给出一个脚本流程，关于数字设计中生成atpg的（以design compilor）

可测试性设计与ATPG.ppt

Mentor-dft 学习笔记 day18-ATPG Basic Tool Flow&ATPG Procedures

atpg:自动测试数据包生成

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